- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
€ 279,45
+ 558 punten
Uitvoering
Omschrijving
The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield. The chapter on RAM testing has been updated with focus on parametric and SRAM stability testing. Similarly, newer material has been incorporated in digital fault modeling and analog testing chapters. The strength of Defect Oriented Testing for nano-Metric CMOS VLSIs lies in its industrial relevance.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 328
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 34
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780387465463
- Verschijningsdatum:
- 21/06/2007
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 162 mm x 236 mm
- Gewicht:
- 721 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 558 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.