Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
€ 279,45
+ 558 punten
Uitvoering
Omschrijving
This book is essential to understand new test methodologies, algorithms and industrial practices. Without its insight into the physics of nano-metric technologies, it would be difficult to develop system-level test strategies that yield a high IC fault coverage. The work on defect-oriented testing presented in the book is not final, and it is an evolving field with interesting challenges imposed by the ever-changing nature of nano-metric technologies. The 2nd edition of Defect Oriented Testing has been extensively updated with the addition of chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering to provide a link between defect sources and yield. Test and design practitioners from academia and industry will find that Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits lays the foundations for further pioneering work.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 328
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 34
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780387465463
- Verschijningsdatum:
- 21/06/2007
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 162 mm x 236 mm
- Gewicht:
- 721 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 558 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.