- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Nicola Nicolici, Bashir M Al-Hashimi
€ 167,95
+ 335 punten
Uitvoering
Omschrijving
This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 178
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 22
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9781441953155
- Verschijningsdatum:
- 9/12/2010
- Uitvoering:
- Paperback
- Formaat:
- Trade paperback (VS)
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 276 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 335 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.