- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Introduction to Advanced System-On-Chip Test Design and Optimization
Erik Larsson
€ 181,95
+ 363 punten
Uitvoering
Omschrijving
Testing Concepts.- Design Flow.- Design for Test.- Boundary Scan.- SOC Design for Testability.- System Modeling.- Test Conflicts.- Test Power Dissipation.- Test Access Mechanism.- Test Scheduling.- SOC Test Applications.- A Reconfigurable Power-Conscious Core Wrapper and its Application to System-on-Chip Test Scheduling.- An Integrated Framework for the Design and Optimization of SOC Test Solutions.- Efficient Test Solutions for Core-Based Designs.- Core Selection in the SOC Test Design-Flow.- Defect-Aware Test Scheduling.- An Integrated Technique for Test Vector Selection and Test Scheduling under ATE Memory Depth Constraint.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 388
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 29
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9781441952691
- Verschijningsdatum:
- 2/02/2011
- Uitvoering:
- Paperback
- Formaat:
- Trade paperback (VS)
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 571 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 363 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.