Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Technische en functionele cookies
Deze cookies zijn essentieel om de website goed te laten functioneren, en laten je toe om bijvoorbeeld in te loggen. Je kan deze cookies niet uitschakelen.
Analytische cookies
Deze cookies verzamelen anonieme informatie over het gebruik van onze website. Op die manier kunnen we de website beter afstemmen op de behoeften van de gebruikers.
Marketingcookies
Deze cookies delen je gedrag op onze website met externe partijen, zodat je op externe platformen relevantere advertenties van Standaard Boekhandel te zien krijgt.
Door een staking bij bpost kan je online bestelling op dit moment iets langer onderweg zijn dan voorzien. Dringend iets nodig? Onze winkels ontvangen jou met open armen!
Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Door een staking bij bpost kan je online bestelling op dit moment iets langer onderweg zijn dan voorzien. Dringend iets nodig? Onze winkels ontvangen jou met open armen!
Je kan maximaal 250 producten tegelijk aan je winkelmandje toevoegen. Verwijdere enkele producten uit je winkelmandje, of splits je bestelling op in meerdere bestellingen.
This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices.