Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
We gebruiken cookies om:
De website vlot te laten werken, de beveiliging te verbeteren en fraude te voorkomen
Inzicht te krijgen in het gebruik van de website, om zo de inhoud en functionaliteiten ervan te verbeteren
Je op externe platformen de meest relevante advertenties te kunnen tonen
Je cookievoorkeuren
Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Technische en functionele cookies
Deze cookies zijn essentieel om de website goed te laten functioneren, en laten je toe om bijvoorbeeld in te loggen. Je kan deze cookies niet uitschakelen.
Analytische cookies
Deze cookies verzamelen anonieme informatie over het gebruik van onze website. Op die manier kunnen we de website beter afstemmen op de behoeften van de gebruikers.
Marketingcookies
Deze cookies delen je gedrag op onze website met externe partijen, zodat je op externe platformen relevantere advertenties van Standaard Boekhandel te zien krijgt.
Je kan maximaal 250 producten tegelijk aan je winkelmandje toevoegen. Verwijdere enkele producten uit je winkelmandje, of splits je bestelling op in meerdere bestellingen.
The calibration of Vector Network Analyzer (VNA) is carried out to compute the error coefficients and to correct the raw data. Several Calibration algorithms are used to calibrate 2-port VNA. Some of the well known calibration procedures are Thru-Short-Delay (TSD) and Thru-Reflect-Line (TRL), Short-Open-Load-Reciprocal (SOLR) and Line-Reflect-Match (LRM). In this book, all the state-of-art calibration techniques have been thoroughly studied. Some of the well known calibration procedures are mathematically analyzed and implemented. Several on wafer devices are measured and their data is corrected by different calibration algorithms mentioned above. Then all the experimental results of different calibration techniques are compared and commented. The advantages and disadvantages of different calibration algorithms are also discussed.