Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Non-fictie
  3. Wetenschap
  4. Fysica
  5. The Basics of Crystallography and Diffraction

The Basics of Crystallography and Diffraction

Fourth Edition

Christopher Hammond
€ 64,45
Uitvoering
Levering 1 à 2 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

This book provides a clear and very broadly based introduction to crystallography, light, X-ray and electron diffraction - a knowledge which is essential to students in a wide range of scientific disciplines but which is otherwise generally covered in subject-specific and more mathematically detailed texts. The text is also designed to appeal to the more general reader since it shows, by historical and biographical references, how the subject has developed from the work and insights of successive generations of crystallographers and scientists.

The book shows how an understanding of crystal structures, both inorganic and organic may be built up from simple ideas of atomic and molecular packing. Beginning with (two dimensional) examples of patterns and tilings, the concepts of lattices, symmetry point and space groups are developed. 'Penrose' tilings and quasiperiodic structures are also included. The reciprocal lattice and its importance in understanding the geometry of light, X-ray and electron diffraction patterns is explained in simple terms, leading to Fourier analysis in diffraction, crystal structure determination, image formation and the diffraction-limited resolution in these techniques. Practical X-ray and electron diffraction techniques and their applications are described. A recurring theme is the common principles: the techniques are not treated in isolation.

The fourth edition has been revised throughout, and includes new sections on Fourier analysis, Patterson maps, direct methods, charge flipping, group theory in crystallography, and a new chapter on the description of physical properties of crystals by tensors (Chapter 14).

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
544
Taal:
Engels
Reeks:

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9780198738688
Verschijningsdatum:
28/07/2015
Uitvoering:
Paperback
Formaat:
Trade paperback (VS)
Afmetingen:
155 mm x 231 mm
Gewicht:
997 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.