- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Synthetic Polymeric Membranes
Characterization by Atomic Force Microscopy
K C Khulbe, C Y Feng, Takeshi Matsuura
€ 118,45
+ 236 punten
Uitvoering
Omschrijving
Synthetic Membranes for Membrane Processes.- Atomic Force Microscopy.- Nodular Structure of Polymers in the Membrane.- Pore Size, Pore Size Distribution, and Roughness at the Membrane Surface.- Cross-sectional AFM Image.- Adhesion.- Membrane Surface Morphology and Membrane Performance.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 198
- Taal:
- Engels
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9783642093272
- Verschijningsdatum:
- 22/11/2010
- Uitvoering:
- Paperback
- Formaat:
- Trade paperback (VS)
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 308 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 236 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.