• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Synthetic Polymeric Membranes

Characterization by Atomic Force Microscopy

K C Khulbe, C Y Feng, Takeshi Matsuura
Hardcover | Engels | Laboratory
€ 105,45
+ 210 punten
Uitvoering
Levertermijn 1 à 4 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Researchers in polymeric membranes as well as R&D professionals will find this work an essential addition to the literature. It concentrates on the method recently developed to study the surfaces of synthetic polymeric membranes using an Atomic Force Microscope (AFM), which is fast becoming a very important tool. Each chapter includes information on basic principles, commercial applications, an overview of current research and guidelines for future research.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
198
Taal:
Engels
Reeks:

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9783540739937
Verschijningsdatum:
17/12/2007
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
160 mm x 239 mm
Gewicht:
476 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 210 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.