Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Study of AlN/GaN HEMTs

Yu Cao
Paperback | Engels
€ 67,45
+ 134 punten
Levertermijn 1 à 4 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
In januari gratis thuislevering in België (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

The large polarization difference between AlN and GaN provides extremely high electron densities at the heterointerface covered by only 3-4 nm AlN barrier, which makes AlN/GaN heterojunction the ultimate nitride structure for high-frequency applications. This work includes the systematic study of the MBE growth of AlN/GaN HEMTs, theoretical study of 2DEG scattering mechanisms, and device issues of in-situ buffer leakage removal with polarization engineering and decreasing contact resistance with band diagram engineering. This book shows the approach to achieve the record high 2DEG density (5e13/cm2) and the record-low sheet resistance (128 ohm/sq) in high-quality AlN/GaN HEMTs. As a theoretical study, electron scattering mechanisms are reviewed in this book. A novel scattering mechanism, remote surface roughness scattering, is proposed. Large buffer leakage and ohmic contact resistance are two factors that heavily degrade high-speed device performance. Polarization engineering was applied in the buffer leakage study, which increased the ON/OFF ratio by >4 orders. Regrown Si-doped GaN and graded InGaN/InN contacts have been demonstrated with a comprehensive X-ray diffraction study.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
196
Taal:
Engels

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9783639336306
Verschijningsdatum:
13/03/2011
Uitvoering:
Paperback
Formaat:
Trade paperback (VS)
Afmetingen:
152 mm x 229 mm
Gewicht:
294 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 134 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
SOLDEN

30% korting

op een mooie selectie boeken en papierwaren
SOLDEN
Solden: 30% korting op boeken en papierwaren
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.