Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Structural Decision Diagrams in Digital Test

Theory and Applications

Raimund Ubar, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Artur Jutman
€ 232,45
+ 464 punten
Levertermijn 1 à 4 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

This is the first book that sums up test-related modeling of digital circuits and systems by a new structural-decision-diagrams model. The model represents structural and functional information jointly and opens a new area of research.

The book introduces and discusses applications of two types of structural decision diagrams (DDs): low-level, structurally synthesized binary DDs (SSBDDs) and high-level DDs (HLDDs) that enable diagnostic modeling of complex digital circuits and systems.

Topics and features:

  • Provides the definition, properties and techniques for synthesis, compression and optimization of SSBDDs and HLDDs
  • Provides numerous working examples that illustrate the key points of the text
  • Describes applications of SSBDDs and HLDDs for various electronic design automation (EDA) tasks, such as logic-level fault modeling and simulation, multi-valued simulation, timing-critical path identification, and test generation
  • Discusses the advantages of the proposed model to traditional binary decision diagrams and other traditional design representations
  • Combines SSBDDs with HLDDs for multi-level representation of digital systems for enabling hierarchical and cross-level solving of complex test-related tasks

This unique book is aimed at researchers working in the fields of computer science and computer engineering, focusing on test, diagnosis and dependability of digital systems. It can also serve as a reference for graduate- and advanced undergraduate-level computer engineering and electronics courses.

Three authors are affiliated with the Dept. of Computer Systems at the Tallinn University of Technology, Estonia: Raimund Ubar is a retired Professor, Jaan Raik and Maksim Jenihhin are tenured Professors. Artur Jutman, PhD, is a researcher at the same university and the CEO of Testonica Lab Ltd., Estonia.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
595
Taal:
Engels
Reeks:

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9783031447334
Verschijningsdatum:
30/01/2024
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
160 mm x 240 mm
Gewicht:
1202 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 464 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.