Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
€ 115,45
+ 230 punten
Omschrijving
Reviews various statistical methodologies that have been recently developed to model, analyse and optimize performance variations at both transistor level and system level in integrated circuit design. Coverage includes sources of process variations, variation characterization and modeling, Monte Carlo analysis, and response surface modeling.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 164
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9781601980564
- Verschijningsdatum:
- 7/08/2007
- Uitvoering:
- Paperback
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 240 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 230 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.