Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry
A User's Guide
Harland G Tompkins, William A McGahan
Hardcover | Engels
€ 274,45
+ 548 punten
Omschrijving
While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 248
- Taal:
- Engels
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780471181729
- Verschijningsdatum:
- 18/03/1999
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 167 mm x 239 mm
- Gewicht:
- 503 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 548 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.