Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry
A User's Guide
Harland G Tompkins, William A McGahan
Hardcover | Engels
€ 274,45
+ 548 punten
Omschrijving
While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 248
- Taal:
- Engels
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780471181729
- Verschijningsdatum:
- 18/03/1999
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 167 mm x 239 mm
- Gewicht:
- 503 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 548 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
SOLDEN
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.