• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Spatial Point Patterns

Methodology and Applications with R

Adrian Baddeley, Ege Rubak, Rolf Turner
€ 175,95
+ 351 punten
Levering 2 à 3 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Modern Statistical Methodology and Software for Analyzing Spatial Point Patterns

Spatial Point Patterns: Methodology and Applications with R shows scientific researchers and applied statisticians from a wide range of fields how to analyze their spatial point pattern data. Making the techniques accessible to non-mathematicians, the authors draw on their 25 years of software development experiences, methodological research, and broad scientific collaborations to deliver a book that clearly and succinctly explains concepts and addresses real scientific questions.

Practical Advice on Data Analysis and Guidance on the Validity and Applicability of Methods

The first part of the book gives an introduction to R software, advice about collecting data, information about handling and manipulating data, and an accessible introduction to the basic concepts of point processes. The second part presents tools for exploratory data analysis, including non-parametric estimation of intensity, correlation, and spacing properties. The third part discusses model-fitting and statistical inference for point patterns. The final part describes point patterns with additional "structure," such as complicated marks, space-time observations, three- and higher-dimensional spaces, replicated observations, and point patterns constrained to a network of lines.

Easily Analyze Your Own Data

Throughout the book, the authors use their spatstat package, which is free, open-source code written in the R language. This package provides a wide range of capabilities for spatial point pattern data, from basic data handling to advanced analytic tools. The book focuses on practical needs from the user's perspective, offering answers to the most frequently asked questions in each chapter.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
810
Taal:
Engels
Reeks:

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9781482210200
Verschijningsdatum:
24/11/2015
Uitvoering:
Hardcover
Bestandsformaat:
Genaaid
Afmetingen:
180 mm x 257 mm
Gewicht:
1610 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 351 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
BUNDELPROMO

2+1 GRATIS op meer dan 200 producten

Profiteer nu van onze vroegboekkortingen
BUNDELPROMO
2+1 GRATIS op meer dan 200 producten
ACTIEPRIJS

€ 10 korting

op de Vivlio Light en Light HD e-reader
ACTIEPRIJS
Vivlio Light en Light HD e-reader met € 10 korting
AANGERADEN

Dé boeken bij jouw vakantiebestemming

door ons geselecteerd
AANGERADEN
Dé boeken bij jouw vakantiebestemming
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.