- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
€ 52,95
+ 105 punten
Uitvoering
Omschrijving
This book introduces readers to various radiation soft-error mechanisms such as soft delays, radiation induced clock jitter and pulses, and single event (SE) coupling induced effects. In addition to discussing various radiation hardening techniques for combinational logic, the author also describes new mitigation strategies targeting commercial designs. Coverage includes novel soft error mitigation techniques such as the Dynamic Threshold Technique and Soft Error Filtering based on Transmission gate with varied gate and body bias. The discussion also includes modeling of SE crosstalk noise, delay and speed-up effects. Various mitigation strategies to eliminate SE coupling effects are also introduced. Coverage also includes the reliability of low power energy-efficient designs and the impact of leakage power consumption optimizations on soft error robustness. The author presents an analysis of various power optimization techniques, enabling readers to make design choices that reduce static power consumption and improve soft error reliability at the same time.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 105
- Taal:
- Engels
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9783319306063
- Verschijningsdatum:
- 4/03/2016
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 349 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 105 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.