- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
€ 351,45
+ 702 punten
Omschrijving
Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 288
- Taal:
- Engels
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780471492405
- Verschijningsdatum:
- 22/12/2000
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 178 mm x 254 mm
- Gewicht:
- 716 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 702 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
BOOK FRIDAY
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.