Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending aan op alles gedurende de hele maand januari.
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending aan op alles gedurende de hele maand januari.
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Scattering of Electromagnetic Waves

Advanced Topics

Leung Tsang, Jin Au Kong
Hardcover | Engels | Remote Sensing and Image Processing | nr. 17
€ 295,95
+ 591 punten
Uitvoering
Levering 2 à 3 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
In januari gratis thuislevering in België (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

A timely and authoritative guide to the state of the art of wave scattering
Scattering of Electromagnetic Waves offers in three volumes a complete and up-to-date treatment of wave scattering by random discrete scatterers and rough surfaces. Written by leading scientists who have made important contributions to wave scattering over three decades, this new work explains the principles, methods, and applications of this rapidly expanding, interdisciplinary field. It covers both introductory and advanced material and provides students and researchers in remote sensing as well as imaging, optics, and electromagnetic theory with a one-stop reference to a wealth of current research results. Plus, Scattering of Electromagnetic Waves contains detailed discussions of both analytical and numerical methods, including cutting-edge techniques for the recovery of earth/land parametric information.
The three volumes are entitled respectively Theories and Applications, Numerical Simulation, and Advanced Topics. In the third volume, Advanced Topics, Leung Tsang (University of Washington) and Jin Au Kong (MIT), cover:
* Two-dimensional random rough surface scattering
* Kirchhoff and related methods for rough surface scattering
* Analytic theory of volume scattering based on cascading of layers
* Analytic wave theory for medium with permittivity fluctuations
* Multiple scattering theory for discrete scatterers
* Quasicrystalline approximation in dense media scattering
* Dense media scattering
* Backscattering enhancement

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
432
Taal:
Engels
Reeks:
Reeksnummer:
nr. 17

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9780471388012
Verschijningsdatum:
2/05/2001
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
156 mm x 234 mm
Gewicht:
775 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 591 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
SOLDEN

30% korting

op een mooie selectie boeken en papierwaren
SOLDEN
Solden: 30% korting op boeken en papierwaren
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.