- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Scanning Transmission Electron Microscopy of Nanomaterials: Basics of Imaging and Analysis
Nobuo Tanaka
Hardcover | Engels
€ 340,45
+ 680 punten
Omschrijving
The basics, present status and future prospects of high-resolution scanning transmission electron microscopy (STEM) are described in the form of a textbook for advanced undergraduates and graduate students. This volume covers recent achievements in the field of STEM obtained with advanced technologies such as spherical aberration correction, monochromator, high-sensitivity electron energy loss spectroscopy and the software of image mapping. The future prospects chapter also deals with z-slice imaging and confocal STEM for 3D analysis of nanostructured materials.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 616
- Taal:
- Engels
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9781848167896
- Verschijningsdatum:
- 6/06/2014
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 155 mm x 229 mm
- Gewicht:
- 1038 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 680 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.