- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Third Edition
Joseph Goldstein, Dale E Newbury, David C Joy, Charles E Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, J R Michael
Paperback | Engels
€ 97,95
+ 195 punten
Uitvoering
Omschrijving
An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The text has been used in educating over 3,000 students at the Lehigh SEM short course as well as thousands of undergraduate and graduate students at universities across the globe. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 689
- Taal:
- Engels
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9781461349693
- Verschijningsdatum:
- 31/05/2013
- Uitvoering:
- Paperback
- Formaat:
- Trade paperback (VS)
- Afmetingen:
- 178 mm x 254 mm
- Gewicht:
- 1224 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 195 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.