- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range
Dissertationsschrift
Daniel Müller
Paperback | Engels | Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik | nr. 89
€ 48,45
+ 96 punten
Uitvoering
Omschrijving
Measurement at millimeter-wave frequencies are prone to parasitic effects which distort the overall results. Especially the use of RF probes introduces unknown distortions, even after the measurement setup is calibrated. This works investigates these distortions based on electromagnetic field simulations of integrated circuits in conjunction with models of the used RF probes. This allows to comprehend the observed distortions and successfully resolve the root of the distortions.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 214
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 89
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9783731508229
- Uitvoering:
- Paperback
- Afmetingen:
- 148 mm x 210 mm
- Gewicht:
- 405 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 96 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.