• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Non-fictie
  3. Wetenschap
  4. Techniek
  5. Elektronica & Elektrotechniek
  6. RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range

RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range

Dissertationsschrift

Daniel Müller
€ 48,45
+ 96 punten
Levertermijn 1 à 4 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Measurement at millimeter-wave frequencies are prone to parasitic effects which distort the overall results. Especially the use of RF probes introduces unknown distortions, even after the measurement setup is calibrated. This works investigates these distortions based on electromagnetic field simulations of integrated circuits in conjunction with models of the used RF probes. This allows to comprehend the observed distortions and successfully resolve the root of the distortions.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
214
Taal:
Engels
Reeks:
Reeksnummer:
nr. 89

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9783731508229
Uitvoering:
Paperback
Afmetingen:
148 mm x 210 mm
Gewicht:
405 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 96 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
AANGERADEN

Alles voor een vliegende start

op school en op kantoor
AANGERADEN
Tips voor een vliegende start
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.