• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Non-fictie
  3. Wetenschap
  4. Techniek
  5. Elektronica & Elektrotechniek
  6. RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range

RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range

Daniel Müller
Paperback | Engels
€ 64,45
+ 128 punten
Uitvoering
Levertermijn 1 à 4 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Measurement at millimeter-wave frequencies are prone to parasitic effects which distort the overall results. Especially the use of RF probes introduces unknown distortions, even after the measurement setup is calibrated. This works investigates these distortions based on electromagnetic field simulations of integrated circuits in conjunction with models of the used RF probes. This allows to comprehend the observed distortions and successfully resolve the root of the distortions.

This work was published by Saint Philip Street Press pursuant to a Creative Commons license permitting commercial use. All rights not granted by the work's license are retained by the author or authors.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
204
Taal:
Engels

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9781013278624
Verschijningsdatum:
9/10/2020
Uitvoering:
Paperback
Formaat:
Trade paperback (VS)
Afmetingen:
216 mm x 280 mm
Gewicht:
485 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 128 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.