• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Non-fictie
  3. Wetenschap
  4. Techniek
  5. Recent Advances in Testing Techniques for AI Hardware Accelerators

Recent Advances in Testing Techniques for AI Hardware Accelerators

Arjun Chaudhuri, Ching-Yuan Chen, Krishnendu Chakrabarty
€ 128,95
+ 257 punten
Levering 1 à 4 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

The rapid growth in big data from mobile, Internet of things (IoT), and edge devices, and the continued demand for higher computing power, have established deep learning as the cornerstone of most artificial intelligence (AI) applications today. Recent years have seen a push towards deep learning implemented on domain-specific AI accelerators that support custom memory hierarchies, variable precision, and optimized matrix multiplication. Commercial AI accelerators have shown superior energy and footprint efficiency compared to GPUs for a variety of inference tasks. In this monograph, roadblocks that need to be understood and analyzed to ensure functional robustness in emerging AI accelerators are discussed. State-of-the-art practices adopted for structural and functional testing of the accelerators are presented, as well as methodologies for assessing the functional criticality of hardware faults in AI accelerators for reducing the test time by targeting the functionally critical faults. This monograph highlights recent research on efforts to improve test and reliability of neuromorphic computing systems built using non-volatile memory (NVM) devices like spin-transfer-torque (STT-MRAM) and resistive RAM (ReRAM) devices. Also are the robustness of silicon-photonic neural networks and the reliability concerns with manufacturing defects and process variations in monolithic 3D (M3D) based near-memory computing systems.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
148
Taal:
Engels
Reeks:

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9781638282402
Verschijningsdatum:
21/06/2023
Uitvoering:
Paperback
Formaat:
Trade paperback (VS)
Afmetingen:
156 mm x 234 mm
Gewicht:
217 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 257 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
KOM LANGS IN ONZE WINKELS

Hoera! Het is weer het Feest van het Boek

van 31/10 t.e.m. 03/11
KOM LANGS IN ONZE WINKELS
Feest van het Boek
WEDSTRIJD

Alleen in onze winkels: koop een boek en win een boekenfeest bij je thuis

Jij kiest welke topauteur misschien bij jou over de vloer komt!
WEDSTRIJD
Win een boekenfeest bij je thuis
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.