Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Winkels

Verlanglijstje

Winkels

Verlanglijstje

Zoeken

Volg ons op

Wist je dat er in Vlaanderen voor iedereen een Standaard Boekhandel is binnen een straal van 7 km?

Zoek een winkel

€ 117,45

+ 234 punten

Levertermijn 1 à 4 weken

Eenvoudig bestellen

Veilig betalen

In januari gratis thuislevering in België (via bpost)

Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Chip-level soft-error rate (SER) estimation can come from two sources: direct experimental measurement and simulation. Because SER mitigation decisions need to be made very early in the product design cycle, long before product Si is available, a simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of the final product. The following contribution summarizes selected publications that are deemed relevant by the author to enable a truly chip-level radiation-induced soft error rate estimation methodology. Although the strategies and concepts described have microprocessors manufactured in bulk CMOS technologies in mind, there is no fundamental reason why they cannot be applied to other technologies and different types of integrated circuits (ICs).