- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy
Spm Applications for Nanometrology
Petr Klapetek
€ 244,95
+ 489 punten
Uitvoering
Omschrijving
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: SPM Applications for Nanometrology, Second Edition describes the recommended practices for measurements and data processing for various SPM techniques, also discussing associated numerical techniques and recommendations for further reading for particular physical quantities measurements. Each chapter has been revised and updated for this new edition to reflect the progress that has been made in SPM techniques in recent years. New features for this edition include more step-by-step examples, better sample data and more links to related documentation in open source software.
Scanning Probe Microscopy (SPM) techniques have the potential to produce information on various local physical properties. Unfortunately, there is still a large gap between what is measured by commercial devices and what could be considered as a quantitative result. This book determines to educate and close that gap.
Associated data sets can be downloaded from http: //gwyddion.net/qspm/
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 416
- Taal:
- Engels
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780128133477
- Verschijningsdatum:
- 24/01/2018
- Uitvoering:
- Paperback
- Formaat:
- Trade paperback (VS)
- Afmetingen:
- 190 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 839 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 489 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.