• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy

Volume 217

Hardcover | Engels | Advances in Imaging and Electron Physics | nr. 217
€ 415,95
+ 831 punten
Levering 2 à 3 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Volume 217, the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics series merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods. Chapters in this release include Statistical parameter estimation theory, Efficient fitting algorithm, Statistics-based atom counting, Atom column detection, Optimal experiment design for nanoparticle atom-counting from ADF STEM images, and more.

Specificaties

Betrokkenen

Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
294
Taal:
Engels
Reeks:
Reeksnummer:
nr. 217

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9780128246078
Verschijningsdatum:
7/04/2021
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
152 mm x 229 mm
Gewicht:
562 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 831 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.