• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Optical Scattering

Measurement and Analysis

John C. Stover
Paperback | Press Monographs
€ 129,45
+ 258 punten
Verwachte leverdatum onbekend
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

This third edition includes scatter models for pits and particles as well as the use of wafer scanners to locate and size isolated surface features. New sections cover the multimillion-dollar wafer scanner business, establishing that microroughness is the noise, not the signal, in these systems. New information on scatter from optically rough surfaces has also been added.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
330
Reeks:

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9781628418408
Verschijningsdatum:
30/07/2012
Uitvoering:
Paperback
Afmetingen:
152 mm x 229 mm
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 258 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
KOM LANGS IN ONZE WINKELS

Hoera! Het is weer het Feest van het Boek

van 31/10 t.e.m. 03/11
KOM LANGS IN ONZE WINKELS
Feest van het Boek
WEDSTRIJD

Alleen in onze winkels: koop een boek en win een boekenfeest bij je thuis

Jij kiest welke topauteur misschien bij jou over de vloer komt!
WEDSTRIJD
Win een boekenfeest bij je thuis
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.