Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Winkels

Verlanglijstje

Winkels

Verlanglijstje

Zoeken

Volg ons op

Wist je dat er in Vlaanderen voor iedereen een Standaard Boekhandel is binnen een straal van 7 km?

Zoek een winkel

€ 131,45

+ 262 punten

Levering 1 à 2 weken

Eenvoudig bestellen

Veilig betalen

Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)

Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

The increasing demand for more content, services, and security drives the development of high-speed wireless technologies, optical communication, automotive radar, imaging and sensing systems and many other mm-wave and THz applications. S-parameter measurement at mm-wave and sub-mm wave frequencies plays a crucial role in the modern IC design debug. Most importantly, however, is the step of device characterization for development and optimization of device model parameters for new technologies. Accurate characterization of the intrinsic device in its entire operation frequency range becomes extremely important and this task is very challenging.

This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies.

Technical topics discussed in the book include:

Specifics of S-parameter measurements of planar structures
Complete mathematical solution for lumped-standard based calibration methods, including the transfer Thru-Match-Reflect (TMR) algorithms
Design guideline and examples for the on-wafer calibration standards realized in both advanced SiGe BiCMOS and RF CMOS processes
Methods for verification of electrical characteristics of calibration standards and accuracy of the in-situ calibration results
Comparison of the new technique vs. conventional approaches: the probe-tip calibration and the pad parasitic de-embedding for various device types, geometries and model parameters
New aspects of the on-wafer RF measurements at mmWave frequency range and calibration assurance