• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Non-fictie
  3. Wetenschap
  4. Techniek
  5. Biotechnologie & Chemische technologie
  6. Numerical Assessments of Cracks in Elastic-Plastic Materials

Numerical Assessments of Cracks in Elastic-Plastic Materials

Universit at Bayreuth
€ 158,45
+ 316 punten
Levertermijn 1 à 4 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

In this book a systematic discussion of crack problems in elastic-plastic materials is presented. The state of the art in fracture mechanics research and assessment of cracks is documented, with the help of analytic, asymptotic methods as well as finite element computations. After a brief introduction to fracture mechanics, the two-parameter concept for stationary cracks is studied in addition to the issues in three-dimensional crack fields under coupling with strong out-of-plane effects. Cracks along interfaces and crack growth problems under mixed mode conditions are also treated. A systematic study of stress singularities for different notches is accompanied by detailed finite element computations.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
311
Taal:
Engels
Reeks:
Reeksnummer:
nr. 4

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9783540433361
Verschijningsdatum:
26/04/2002
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
156 mm x 234 mm
Gewicht:
630 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 316 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.