- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Nanometer Variation-Tolerant Sram
Circuits and Statistical Design for Yield
Mohamed Abu Rahma, Mohab Anis
Hardcover | Engels
€ 162,45
+ 324 punten
Uitvoering
Omschrijving
This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 172
- Taal:
- Engels
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9781461417484
- Verschijningsdatum:
- 27/09/2012
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 157 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 385 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 324 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.