Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Non-fictie
  3. Wetenschap
  4. Techniek
  5. Elektronica & Elektrotechniek
  6. Modern Characterization of Electromagnetic Systems and Its Associated Metrology

Modern Characterization of Electromagnetic Systems and Its Associated Metrology

Tapan K Sarkar, Magdalena Salazar-Palma, Ming Da Zhu, Heng Chen
Hardcover | Engels | IEEE Press
€ 230,45
+ 460 punten
Levering 1 à 2 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

New method for the characterization of electromagnetic wave dynamics

Modern Characterization of Electromagnetic Systems introduces a new method of characterizing electromagnetic wave dynamics and measurements based on modern computational and digital signal processing techniques. The techniques are described in terms of both principle and practice, so readers understand what they can achieve by utilizing them.

Additionally, modern signal processing algorithms are introduced in order to enhance the resolution and extract information from electromagnetic systems, including where it is not currently possible. For example, the author addresses the generation of non-minimum phase or transient response when given amplitude-only data.

  • Presents modern computational concepts in electromagnetic system characterization
  • Describes a solution to the generation of non-minimum phase from amplitude-only data
  • Covers model-based parameter estimation and planar near-field to far-field transformation as well as spherical near-field to far-field transformation

Modern Characterization of Electromagnetic Systems is ideal for graduate students, researchers, and professionals working in the area of antenna measurement and design. It introduces and explains a new process related to their work efforts and studies.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
720
Taal:
Engels
Reeks:

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9781119076469
Verschijningsdatum:
24/08/2021
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
160 mm x 231 mm
Gewicht:
952 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 460 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.