- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Microscopy of Semiconducting Materials 1987, Proceedings of the Institute of Physics Conference, Oxford University, April 1987
Cullis
€ 256,95
+ 513 punten
Omschrijving
The various forms of microscopy and related microanalytical techniques are making unique contributions to semiconductor research and development that underpin many important areas of microelectronics technology. Microscopy of Semiconducting Materials 1987 highlights the progress that is being made in semiconductor microscopy, primarily in electron probe methods as well as in light optical and ion scattering techniques. The book covers the state of the art, with sections on high resolution microscopy, epitaxial layers, quantum wells and superlattices, bulk gallium arsenide and other compounds, properties of dislocations, device silicon and dielectric structures, silicides and contacts, device testing, x-ray techniques, microanalysis, and advanced scanning microscopy techniques. Contributed by numerous international experts, this volume will be an indispensable guide to recent developments in semiconductor microscopy for all those who work in the field of semiconducting materials and research development.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 820
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 87
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780854981786
- Verschijningsdatum:
- 1/10/1987
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 1310 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 513 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.