Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Technische en functionele cookies
Deze cookies zijn essentieel om de website goed te laten functioneren, en laten je toe om bijvoorbeeld in te loggen. Je kan deze cookies niet uitschakelen.
Analytische cookies
Deze cookies verzamelen anonieme informatie over het gebruik van onze website. Op die manier kunnen we de website beter afstemmen op de behoeften van de gebruikers.
Marketingcookies
Deze cookies delen je gedrag op onze website met externe partijen, zodat je op externe platformen relevantere advertenties van Standaard Boekhandel te zien krijgt.
Door een staking bij bpost kan je online bestelling op dit moment iets langer onderweg zijn dan voorzien. Dringend iets nodig? Onze winkels ontvangen jou met open armen!
Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Door een staking bij bpost kan je online bestelling op dit moment iets langer onderweg zijn dan voorzien. Dringend iets nodig? Onze winkels ontvangen jou met open armen!
Je kan maximaal 250 producten tegelijk aan je winkelmandje toevoegen. Verwijdere enkele producten uit je winkelmandje, of splits je bestelling op in meerdere bestellingen.
The present research work reports the parametric study of ion beams emitted from two different Mather type plasma focus devices and their utilization in materials processing. Experiments have been conducted by using a conventional 2.3 kJ UNU/ICTP plasma focus device and the NX2 device (a repetitive plasma focus). The ion parameters such as energy, energy distribution, number density and current density are evaluated in the ambient gas pressure by employing a BPX65 photodiode and a Faraday cup (FC) using time of flight technique. A major motivation is to establish the optimum processing conditions for ion nitriding, surface modification, phase changes and carburizing of materials of industrial interest like Ti, AlFe1.8Zn0.8 alloy and SS-321 in plasma environment. The processed samples are characterized for structural and morphological changes, compositional profile and surface hardness by employing XRD, SEM FESEM, EDX, XPS, Raman spectroscopy and Vickers microhardness test. The SRIM code and microindentation measurements are used to estimate the depth profile of the modified layers.