Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Local Electrode Atom Probe Tomography
A User's Guide
David J Larson, Ty J Prosa, Robert M Ulfig, Brian P Geiser, Thomas F Kelly
Paperback | Engels
€ 118,95
+ 237 punten
Uitvoering
Omschrijving
This book is the first, single-source guide to successful experiments using the local electrode atom probe (LEAP(R)) microscope. Coverage is both comprehensive and user friendly, including the fundamentals of preparing specimens for the microscope from a variety of materials, the details of the instrumentation used in data collection, the parameters under which optimal data are collected, the current methods of data reconstruction, and selected methods of data analysis. Tricks of the trade are described that are often learned only through trial and error, allowing users to succeed much more quickly in the challenging areas of specimen preparation and data collection. A closing chapter on applications presents selected, state-of-the-art results using the LEAP microscope.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 318
- Taal:
- Engels
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9781493952434
- Verschijningsdatum:
- 27/08/2016
- Uitvoering:
- Paperback
- Formaat:
- Trade paperback (VS)
- Afmetingen:
- 155 mm x 235 mm
- Gewicht:
- 5705 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 237 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
SOLDEN
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.