- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Kelvin Probe Force Microscopy
Measuring and Compensating Electrostatic Forces
€ 105,45
+ 210 punten
Omschrijving
Introduction.- I. Technical Aspects.- Experimental technique and working modes.- Phase Modulation Kelvin Probe Microscopy.- Data interpretation, spatial resolution and deconvolution.- Contribution of the numerical approach to Kelvin probe force microscopies.- Quantum mechanical simulations of electrostatic tip-sample interactions.- II. Selected Applications.- Surface properties of III-V semiconductors.- Electronic surface properties of semiconductors devices.- Optoelectronic studies of solar cells.- Electrical characterization of low dimensional systems (quantum/nano-structures).- Electronic structure of molecular assemblies.- KPFM for biochemical analysis.- Local work function analysis of photo catalysts.- Kelvin probe force microscopy with atomic resolution.- Summary.
Specificaties
Betrokkenen
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 334
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 48
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9783642225659
- Verschijningsdatum:
- 22/10/2011
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 157 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 612 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 210 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.