Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Kelvin Probe Force Microscopy
Measuring and Compensating Electrostatic Forces
€ 105,45
+ 210 punten
Omschrijving
Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.
Specificaties
Betrokkenen
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 334
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 48
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9783642225659
- Verschijningsdatum:
- 22/10/2011
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 157 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 612 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 210 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
SOLDEN
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.