- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Ionizing Radiation Effects in Mos Oxides
€ 111,95
+ 223 punten
Omschrijving
This volume is intended to serve as an updated critical guide to the extensive literature on the basic physical mechanisms controlling the radiation and reliability responses of MOS oxides. The last such guide was Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits, edited by Ma and Dressendorfer and published in 1989. While that book remains an authoritative reference in many areas, there has been a significant amount of more recent work on the nature of the electrically active defects in MOS oxides which are generated by exposure to ionizing radiation. These same defects are also critical in many other areas of oxide reliability research. As a result of this work, the understanding of the basic physical mechanisms has evolved. This book summarizes the new work and integrates it with older work to form a coherent, unified picture. It is aimed primarily at specialists working on radiation effects and oxide reliability.
Specificaties
Betrokkenen
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 188
- Taal:
- Engels
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9789810233266
- Verschijningsdatum:
- 26/01/2000
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 155 mm x 224 mm
- Gewicht:
- 385 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 223 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.