Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Technische en functionele cookies
Deze cookies zijn essentieel om de website goed te laten functioneren, en laten je toe om bijvoorbeeld in te loggen. Je kan deze cookies niet uitschakelen.
Analytische cookies
Deze cookies verzamelen anonieme informatie over het gebruik van onze website. Op die manier kunnen we de website beter afstemmen op de behoeften van de gebruikers.
Marketingcookies
Deze cookies delen je gedrag op onze website met externe partijen, zodat je op externe platformen relevantere advertenties van Standaard Boekhandel te zien krijgt.
Je kan maximaal 250 producten tegelijk aan je winkelmandje toevoegen. Verwijdere enkele producten uit je winkelmandje, of splits je bestelling op in meerdere bestellingen.
A detailed and systematic study of ion implanted MOCVD grown wurtzite gallium nitride (GaN) and aluminum indium nitride (AlInN) is conducted. As-grown samples were characterized using XRD and Hall measurements to check the structural and electrical properties of the samples. Neon (Ne), manganese (Mn) and cerium (Ce) ions were implanted into the materials with different doses in ranges 1014-9x1015, 1014-5x1016 and 3x1014-2x1015cm-2 respectively. Using rapid thermal annealing (RTA) furnace implanted GaN samples were annealed at 800, 850, 900 and 1000oC and implanted AlInN samples were annealed at 750 and 850 oC for lattice recovery and activation of the dopants. Structural and optical characterizations were made using Rutherford backscattering spectroscopy (RBS), X-Ray diffraction (XRD), Photoluminescence (PL), Optical transmission and Raman scattering spectroscopy. Moreover, magnetic characterization of Mn and Ce implanted samples was also carried out with vibrating sample magnetometer (VSM) and superconducting quantum interference device (SQUID).