Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Technische en functionele cookies
Deze cookies zijn essentieel om de website goed te laten functioneren, en laten je toe om bijvoorbeeld in te loggen. Je kan deze cookies niet uitschakelen.
Analytische cookies
Deze cookies verzamelen anonieme informatie over het gebruik van onze website. Op die manier kunnen we de website beter afstemmen op de behoeften van de gebruikers.
Marketingcookies
Deze cookies delen je gedrag op onze website met externe partijen, zodat je op externe platformen relevantere advertenties van Standaard Boekhandel te zien krijgt.
Je kan maximaal 250 producten tegelijk aan je winkelmandje toevoegen. Verwijdere enkele producten uit je winkelmandje, of splits je bestelling op in meerdere bestellingen.
Novel materials with high-dielectric(k) constants are rapidly gaining attention for their application as gate insulator for future MOS transistors. This book provides the basic principles underlying chemical vapor deposition (CVD) of hafnium oxide and hafnium silicate thin films for high-k application. In addition to the deposition fundamentals, the discussions in the book provide valuable insights to various chemical and physical characterization techniques that can be applied to thin films in general. This easy-to-understand and well- illustrated text is designed for both beginners as well as advanced researchers with a good introduction to the subject of high-k thin films.