Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
Terry L Alford, L C Feldman, James W Mayer
Paperback | Engels
€ 152,95
+ 305 punten
Uitvoering
Omschrijving
Modern science and technology, from materials science to integrated circuit development, is directed toward the nanoscale. This book focuses on the fundamental physics underlying the techniques used to analyze the nature of surfaces and near-surfaces in the properties of materials. From thin films to field effect transistors, the emphasis is on reducing dimensions from the micro to the nanoscale. Coverage includes new analytical techniques, such as x-ray fluorescence (XRF) in thin film analysis. This volume updates (with a nano focus) the well regarded 1986 book, Surface and Thin Film Analysis, by Feldman and Mayer.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 336
- Taal:
- Engels
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9781441939807
- Verschijningsdatum:
- 29/10/2010
- Uitvoering:
- Paperback
- Formaat:
- Trade paperback (VS)
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 494 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 305 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
SOLDEN
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.