• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Non-fictie
  3. Wetenschap
  4. Fysica
  5. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

Terry L Alford, L C Feldman, James W Mayer
Hardcover | Engels
€ 167,95
+ 335 punten
Uitvoering
Levering 2 à 3 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Modern science and technology, from materials science to integrated circuit development, is directed toward the nanoscale. This book focuses on the fundamental physics underlying the techniques used to analyze the nature of surfaces and near-surfaces in the properties of materials. From thin films to field effect transistors, the emphasis is on reducing dimensions from the micro to the nanoscale. Coverage includes new analytical techniques, such as x-ray fluorescence (XRF) in thin film analysis. This volume updates (with a nano focus) the well regarded 1986 book, Surface and Thin Film Analysis, by Feldman and Mayer.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
336
Taal:
Engels

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9780387292601
Verschijningsdatum:
16/02/2007
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
166 mm x 234 mm
Gewicht:
703 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 335 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
AANGERADEN

Alles voor een vliegende start

op school en op kantoor
AANGERADEN
Tips voor een vliegende start
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.