Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Technische en functionele cookies
Deze cookies zijn essentieel om de website goed te laten functioneren, en laten je toe om bijvoorbeeld in te loggen. Je kan deze cookies niet uitschakelen.
Analytische cookies
Deze cookies verzamelen anonieme informatie over het gebruik van onze website. Op die manier kunnen we de website beter afstemmen op de behoeften van de gebruikers.
Marketingcookies
Deze cookies delen je gedrag op onze website met externe partijen, zodat je op externe platformen relevantere advertenties van Standaard Boekhandel te zien krijgt.
Je kan maximaal 250 producten tegelijk aan je winkelmandje toevoegen. Verwijdere enkele producten uit je winkelmandje, of splits je bestelling op in meerdere bestellingen.
This book brings together seven selected best papers presented at the 2014 Russia-Japan-USA Symposium on Fundamental and Applied Problems of Terahertz Devices and Technologies (RJUS TeraTech-2014), which was held at the University of Buffalo, New York, USA on 17-21 June 2014.As the third in the series of annual meetings, RJUS TeraTech-2014 continues to be an excellent platform for researchers to exchange their recent original results, and to deal with the technical challenges and barriers of transitioning the research results into the THz system-level applications. The symposium focuses on 2 main areas, namely, interaction of THz radiation with micro- and nano-structures, and advanced solid-state THz emitters and sensors. Leading experts from academia, industry, and government agencies from three countries, including USA, Japan, and Russia, contributed to the collection of research results and developments.This book, covering issues ranging from basic Thz-related phenomena to applications in sensing, imaging, and communications, contains some ground-breaking works in the industry, and will be a useful reference for device and electronics engineers and scientists.