Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Electron Spin Resonance and Related Phenomena in Low-Dimensional Structures
€ 158,45
+ 316 punten
Omschrijving
Resistively Detected ESR and ENDOR Experiments in Narrow and Wide Quantum Wells: A Comparative Study.- Electron-Spin Manipulation in Quantum Dot Systems.- Resistively Detected NMR in GaAs/AlGaAs.- Electron-Spin Dynamics in Self-Assembled (In, Ga)As/GaAs Quantum Dots.- Single-Electron-Spin Measurements in Si-Based Semiconductor Nanostructures.- Si/SiGe Quantum Devices, Quantum Wells, and Electron-Spin Coherence.- Electrical Detection of Electron-Spin Resonance in Two-Dimensional Systems.- Quantitative Treatment of Decoherence.- Measuring the Charge and Spin States of Electrons on Individual Dopant Atoms in Silicon.- Electron Spin as a Spectrometer of Nuclear-Spin Noise and Other Fluctuations.- A Robust and Fast Method to Compute Shallow States without Adjustable Parameters: Simulations for a Silicon-Based Qubit.- Photon-Assisted Tunneling in Quantum Dots.
Specificaties
Betrokkenen
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 261
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 115
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9783540793649
- Verschijningsdatum:
- 1/09/2009
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 160 mm x 239 mm
- Gewicht:
- 635 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 316 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.