Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Technische en functionele cookies
Deze cookies zijn essentieel om de website goed te laten functioneren, en laten je toe om bijvoorbeeld in te loggen. Je kan deze cookies niet uitschakelen.
Analytische cookies
Deze cookies verzamelen anonieme informatie over het gebruik van onze website. Op die manier kunnen we de website beter afstemmen op de behoeften van de gebruikers.
Marketingcookies
Deze cookies delen je gedrag op onze website met externe partijen, zodat je op externe platformen relevantere advertenties van Standaard Boekhandel te zien krijgt.
Je kan maximaal 250 producten tegelijk aan je winkelmandje toevoegen. Verwijdere enkele producten uit je winkelmandje, of splits je bestelling op in meerdere bestellingen.
Mesoporous silica (MPS) thin films are attractive for application as low-κ interlayer dielectric (ILD) in integrated circuits. However these films are susceptible to instabilities in electrical behavior due to water uptake and copper diffusion. This work discusses the electrical, chemical, and thermal instabilities, Cu diffusion, and adhesion of these materials for evaluating and enabling their use for applications as future ILD in device wiring. Thermal stability of functional groups and adhesion of these films with Cu are also key questions for integration of these dielectrics into real devices. We do try to address these questions here for few type of functional MPS films. Pore structure is another key parameter in defining mechanical and electrical performance of MPS films. In this work we used MPS films with 3D-Cubic pores for most of the studies. Differences in properties of MPS films with pores oriented parallel to substrate (2D-hexagonal) and MPS films with cubic fashion (3D-cubic) pores are discussed towards the end. In summary, this work shows ways to tailor electrical and mechanical properties of MPS low-κ dielectrics for future applications.