Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Technische en functionele cookies
Deze cookies zijn essentieel om de website goed te laten functioneren, en laten je toe om bijvoorbeeld in te loggen. Je kan deze cookies niet uitschakelen.
Analytische cookies
Deze cookies verzamelen anonieme informatie over het gebruik van onze website. Op die manier kunnen we de website beter afstemmen op de behoeften van de gebruikers.
Marketingcookies
Deze cookies delen je gedrag op onze website met externe partijen, zodat je op externe platformen relevantere advertenties van Standaard Boekhandel te zien krijgt.
Je kan maximaal 250 producten tegelijk aan je winkelmandje toevoegen. Verwijdere enkele producten uit je winkelmandje, of splits je bestelling op in meerdere bestellingen.
Innovations in crystallographic instrumentation and the rapid development of methods of diffraction measurement have led to a vast improvement in our ability to determine crystal and molecular structure. This up-to-date resource will allow the reader to harness the potential of X-ray diffraction instruments. Different sources of X-radiation used in crystallography are introduced, including synchrotron radiation, as well as a systematic review of detectors for X-rays and basic instruments for single crystal and powder diffractometry. The principles of the diffraction experiment are discussed and related to their practical application with a comparative description of different scan procedures. Diffraction data collection and processing are also reviewed and methods for error correction are described. This book will provide a useful guide for researchers and students starting in this area of science, as well as skilled crystallographers.