Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Wil je zeker zijn dat je cadeautjes op tijd onder de kerstboom liggen? Onze winkels ontvangen jou met open armen. Nu met extra openingsuren op zondag!

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Winkels

Verlanglijstje

Winkels

Verlanglijstje

Zoeken

Volg ons op

Wist je dat er in Vlaanderen voor iedereen een Standaard Boekhandel is binnen een straal van 7 km?

Zoek een winkel

€ 67,45

+ 134 punten

Levertermijn 1 à 4 weken

Eenvoudig bestellen

Veilig betalen

Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)

Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Testing of database-intensive applications has unique challenges that stem from hidden dependencies, subtle differences in data semantics, target database schemes, and implicit business rules. These challenges become even more difficult when the application involves integrated and heterogeneous databases or confidential data. Proper test-data that simulate real-world data problems are critical to achieving reasonable quality benchmarks for functional input-validation, load, performance, and stress testing. In general, techniques for creating test-data fall in two broad areas, namely, test-data generation and test-data extraction, that differ significantly in their basic approach, run-time performance, and the types of data they create. Test-data generation relies on generation rules, grammars, and pre-defined domains to create data from scratch. Test-data extraction takes sample data from existing production databases and manipulates that data for testing purposes, while trying to maintain the natural characteristics of the data. This title provides novel test-data extraction techniques and compares it with competing test-data generation.