Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Technische en functionele cookies
Deze cookies zijn essentieel om de website goed te laten functioneren, en laten je toe om bijvoorbeeld in te loggen. Je kan deze cookies niet uitschakelen.
Analytische cookies
Deze cookies verzamelen anonieme informatie over het gebruik van onze website. Op die manier kunnen we de website beter afstemmen op de behoeften van de gebruikers.
Marketingcookies
Deze cookies delen je gedrag op onze website met externe partijen, zodat je op externe platformen relevantere advertenties van Standaard Boekhandel te zien krijgt.
Je kan maximaal 250 producten tegelijk aan je winkelmandje toevoegen. Verwijdere enkele producten uit je winkelmandje, of splits je bestelling op in meerdere bestellingen.
Electrochemical Deposition (ECD) has become the most promising technology for copper interconnect on ULSI circuits since 1997. Dual damascene technology followed by ECD has allowed for copper to replace aluminum in the ULSI interconnect. The ECD method needs a seed layer, but it becomes more difficult to conformally deposit a seed layer for copper ECD as the feature size decreases beyond 65 nm. Depositing seed layers on diffusion barrier layers, the inner volume of trenches and vias for copper filling is reduced further. Due to these difficulties, seedless copper ECD was developed in order to reach the flaw-free fill of copper for ULSI interconnect with high aspect ratios. This book deals with the seedless copper ECD directly onto diffusion barrier layers, which is desired to avoid creation of voids inside copper wires. The electrochemical system and mechanism of seedless copper ECD, the nucleation and growth models, and the adhesion study of copper/diffusion barrier interface are covered in depth. This book would be useful to students and professionals who are interested in microelectronic processing, especially in ULSI interconnect.