- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
€ 105,45
+ 210 punten
Uitvoering
Omschrijving
Provides a single-source reference on contactless probing approaches for VLSI testing and diagnostic measurement
Introduces readers to various optical contactless testing techniques, such as Electro-Optic Probing, Charge Density Probe, and Photo-emissive Probe
Discusses the applicability and adaptability of each technique, based on multilayer metallization, wafer level techniques, and invasiveness
Provides a comparison among various contactless testing techniques
Describes a variety of industrial applications of contactless VLSI testing
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 93
- Taal:
- Engels
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9783319888194
- Verschijningsdatum:
- 4/09/2018
- Uitvoering:
- Paperback
- Formaat:
- Trade paperback (VS)
- Afmetingen:
- 155 mm x 235 mm
- Gewicht:
- 453 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 210 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
BOOK FRIDAY
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.