- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)
Yonghua Rong
Hardcover | Engels
€ 208,95
+ 417 punten
Omschrijving
"Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)" describes the basic concepts and operative techniques of AEM. It focuses on the study of phase transformations and dislocation in deformation by AEM. Further, the book also presents the physical concepts and mathematic analysis for diffraction and crystallography using numerous examples, such as the quantitative prediction of the orientation relationships in phase transformations.
The book is intended for researchers and graduate students in materials science, engineering, and condensed matter physics.
Yonghua Rong is a professor at the School of Materials Science and Engineering, Shanghai Jiao Tong University, China.
The book is intended for researchers and graduate students in materials science, engineering, and condensed matter physics.
Yonghua Rong is a professor at the School of Materials Science and Engineering, Shanghai Jiao Tong University, China.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 500
- Taal:
- Engels
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9783642201189
- Uitvoering:
- Hardcover
- Afmetingen:
- 155 mm x 235 mm
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 417 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.