• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Atom Probe Field Ion Microscopy

M K Miller, A Cerezo, M G Hetherington, G D W Smith
€ 307,95
+ 615 punten
Levering 1 à 2 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

The atom probe technique permits the imaging and chemical identification of individual and solid surfaces. It is one of the most important experimental methods in the emerging field of atomic-scale science and technology. This book gives a definitive and up-to-date account of the field, and is written by leading authorities on the subject. It includes recent advances in the method which have allowed for new and exciting applications to emerge in the field of material science, surface science, and catalysis. The book is a state-of-the art account of this important field, and is intended for a graduate-level readership.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
532
Taal:
Engels
Reeks:
Reeksnummer:
nr. 52

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9780198513872
Verschijningsdatum:
28/11/1996
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
162 mm x 241 mm
Gewicht:
1002 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 615 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE

Tot meer dan 50% korting

op een selectie e-books
E-BOOK ACTIE
E-book kortingen
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.