• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Lezen

Leren

Geven

Beleven

Jonge gezinnen

Alle producten

E-books

Boekenbon

Promoties

Volg ons op

Wist je dat er in Vlaanderen voor iedereen een Standaard Boekhandel is binnen een straal van 7 km?

Zoek een winkel

  2. Boeken
  3. Non-fictie
  4. Wetenschap
  5. Techniek
  6. Biotechnologie & Chemische technologie
  7. Applied Scanning Probe Methods XII

Applied Scanning Probe Methods XII

Characterization

Hardcover | Engels | Nanoscience and Technology
€ 158,45
+ 316 punten
Levertermijn 1 à 4 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Crack initiation and growth are key issues when it comes to the mechanical reliab- ity of microelectronic devices and microelectromechanical systems (MEMS). Es- cially in organic electronics where exible substrates will play a major role these issues will become of utmost importance. It is therefore necessary to develop me- ods which in situ allow the experimental investigation of surface deformation and fracture processes in thin layers at a micro and nanometer scale. While scanning electron microscopy (SEM) might be used it is also associated with some major experimental drawbacks. First of all if polymers are investigated they usually have to be coated with a metal layer due to their commonly non-conductive nature. Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties. Furthermore, for all kinds of materials a considerable amount of expe- mental effort is necessary to build a tensile testing machine that ts into the chamber. Therefore, a very promising alternative to SEM is based on the use of an atomic force microscope (AFM) to observe in situ surface deformation processes during straining of a specimen. First steps towards this goal were shown in the 1990s in [1-4] but none of these approaches truly was a microtensile test with sample thicknesses in the range of micrometers. To the authors' knowledge, this was shown for the rst time by Hild et al. in [5]. 16.

Specificaties

Betrokkenen

Uitgeverij:
Springer

Inhoud

Aantal bladzijden:
224
Taal:
Engels
Reeks:
Nanoscience and Technology

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9783540850380
Verschijningsdatum:
4/11/2008
Uitvoering:
Hardcover
Bestandsformaat:
Genaaid
Afmetingen:
160 mm x 234 mm
Gewicht:
498 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 316 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
BUNDELPROMO

2+1 GRATIS op meer dan 200 producten

Profiteer nu van onze vroegboekkortingen
Maak je voordeelbundel
BUNDELPROMO
2+1 GRATIS op meer dan 200 producten
ACTIEPRIJS

€ 10 korting

op de Vivlio Light en Light HD e-reader
Pak je korting
ACTIEPRIJS
Vivlio Light en Light HD e-reader met € 10 korting
AANGERADEN

Dé boeken bij jouw vakantiebestemming

door ons geselecteerd
Ontdek, lees en reis met ons mee
AANGERADEN
Dé boeken bij jouw vakantiebestemming
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.

Uitgelichte categorieën

Geschiedenis

Strips, Comics & Graphic Novels

Mens & Maatschappij

Kookboeken

Hobby

Science fiction & Fantasy

Psychologie

Wetenschap

Kunst & Cultuur

Onderwijs & Pedagogie

Sport

Economie & Management

Zelfzorg, Gezin & Gezondheid

Reizen

Taal

Religie & Spiritualiteit