Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
We gebruiken cookies om:
De website vlot te laten werken, de beveiliging te verbeteren en fraude te voorkomen
Inzicht te krijgen in het gebruik van de website, om zo de inhoud en functionaliteiten ervan te verbeteren
Je op externe platformen de meest relevante advertenties te kunnen tonen
Je cookievoorkeuren
Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Technische en functionele cookies
Deze cookies zijn essentieel om de website goed te laten functioneren, en laten je toe om bijvoorbeeld in te loggen. Je kan deze cookies niet uitschakelen.
Analytische cookies
Deze cookies verzamelen anonieme informatie over het gebruik van onze website. Op die manier kunnen we de website beter afstemmen op de behoeften van de gebruikers.
Marketingcookies
Deze cookies delen je gedrag op onze website met externe partijen, zodat je op externe platformen relevantere advertenties van Standaard Boekhandel te zien krijgt.
Je kan maximaal 250 producten tegelijk aan je winkelmandje toevoegen. Verwijdere enkele producten uit je winkelmandje, of splits je bestelling op in meerdere bestellingen.
In Dynamic Random Access Memory, every cell experiences leakage current which consumes part of the stored charge. As the DRAM cell size is shrinking, the leakage is increasing. To maintain the desired data retention time, the leakage current must be kept within the acceptable limit. So, leakage reduction in memories is a topic of great challenge and interest in researchers. This book presents the analysis and design of a DRAM cell for low leakage. For the analysis, trench capacitor DRAM cell has been considered. For the design of trench capacitor DRAM cell, 0.18 μm submicron nMOSFET as access transistor and the conventional trench capacitor as storage device have been considered. Various DRAM cell structures, leakage mechanisms in a DRAM cell and process-level techniques for leakage reduction have been reviewed. Process simulation and device simulation of DRAM cell have been done using the ATHENA/ATLAS packages of SILVACO. This book will help the beginners as the book reviews the previous work done by many researchers and provides the trends in DRAM cell designs, theoretical knowledge of leakage mechanisms in DRAM cell and process/device simulation of DRAM cell.