- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Advances in Imaging and Electron Physics
Optics of Charged Particle Analyzers Volume 161
€ 275,45
+ 550 punten
Omschrijving
Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy.
This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.
Specificaties
Betrokkenen
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 304
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 161
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780123813183
- Verschijningsdatum:
- 25/03/2010
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Ongenaaid / garenloos gebonden
- Afmetingen:
- 155 mm x 229 mm
- Gewicht:
- 521 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 550 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.